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首届国际光电子与测量会议在我校举行
作者:    发布时间:(2018-10-23 10:07:17)    阅读次数:

2018年10月19日,国际光电子与测量会议由我校与中国计量科学研究院,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,苏州大学,研究所共同主办。中国科学院材料技术与工程系。 (ICOM2018)正式开幕。 中国科学院上海分院院长,中国科学院院士王建宇担任会议主席。 俞小平副校长出席了会议开幕式。

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会议致力于立足国际视野,突出光电前沿,突出测量特色,深化高端交流,促进学术进步和产业发展,吸引意大利,荷兰,加拿大,日本,新加坡,南非等国家,加纳,中国等。来自该地区的90多名代表参加了会议。 参加者中,中国科学院院士2人,国际知名学会4人,长江学者,国家皆清等国家级人才2人。 会议的研究方向涵盖了光电子和测量领域的新观点和热点。 在为期两天的会议期间,代表们聚焦于先进的光电测量,测量和标准,并就光电子领域的尖端技术,先进的测量方法和工业发展方向交换了意见,介绍了最新的发明和应用。光电子测量领域。讨论了国内外先进光电子器件的科学,技术,材料和技术问题。

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中国科学院院士,长春光学研究所研究员,王立军,意大利科学院纳米结构材料研究所教授,Michele Muccini教授,浙江大学OSA研究员,长江学者刘旭教授,国际热门纳米材料浙江大学教授彭晓刚教授,国家洁青,长江学者,孙洪波,清华大学教授,国家杰庆,英国皇家学会会员,谭平衡,中国科学院半导体研究所研究员,张建华教授,上海大学教育部新显示技术与应用集成重点实验室主任等。会上作了精彩的会议报告。 王立军院士在“激光在检测领域的应用”会议报告中介绍了激光技术在物理量检测,化学反应探索,医学成像检测和信息感知等领域的重要作用和应用。他认为激光测量是“改变”。坦率地说,世界之光:“激光测量促进人类进入光子时代,光明制造时代和光学信息时代,促进人类了解世界和改造世界的过程。刘旭教授在会议报告中介绍了他的团队最初的FED(荧光辐射差示显微镜)技术“超分辨率成像中空间频移的深层效应”,提高了现有系统的成像分辨率。首次实现了片上大场,远场,无标记超分辨率显微镜成像,分辨率比传统显微镜高5倍,其视野低于之前报道的未标记的远场超分辨率显微镜。该方法延伸了两个数量级。 北京大学肖立新教授,上海交通大学陈俊超教授,西安交通大学吴朝新教授,中山大学王凯教授,吉林大学冯静教授,厦门大学孙志军教授,胡建玲教授苏州大学苏州大学李晓峰教授,太原理工大学王华教授,南京工业大学安中富教授,天津理工大学尹守根教授,莱顿大学GrégoryF。Schneider教授,刘柳教授来自新加坡南洋理工大学材料工程学院,中国科学院福建材料研究所研究员郑庆东,中国科学技术工程研究所宁波材料研究员葛子仪,中国大学董新勇教授计量学,彭应权教授,赵春柳教授等分别围绕相关主题编写了一篇新颖丰富的章节报告和邀请报告。

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会议于10月20日下午闭幕。 会议为来自多个国家和地区的光电测量行业的专家学者提供了学术交流平台,为工业和行业发展提供了新的思路。 这次会议是我校庆祝学校成立40周年的重要活动之一。与会专家感受到了学校庆祝的节日气氛,加深了对中国计量大学及相关学科的了解。 会议的召开对扩大学校和学科的国内和国际影响具有长远意义。

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